電鍍層測厚儀不僅能提供金屬鍍層厚度的測量,同時可對電鍍液進行分析
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電鍍測厚儀不僅能提供金屬鍍層厚度的測量,同時可對電鍍液進行分析。只需數(shù)秒鐘,便能非破壞性地得到準確的測量結(jié)果甚至是多層鍍層的樣品也一樣能勝任。
電鍍層測厚儀采用磁感應(yīng)原理時,利用從測頭經(jīng)過非鐵磁覆層而流入鐵磁基體的磁通的大小,來測定覆層厚度。也可以測定與之對應(yīng)的磁阻的大小,來表示其覆層厚度。覆層越厚,則磁阻越大,磁通越小。利用磁感應(yīng)原理的測厚儀,原則上可以有導(dǎo)磁基體上的非導(dǎo)磁覆層厚度。一般要求基材導(dǎo)磁率在500以上。
如果覆層材料也有磁性,則要求與基材的導(dǎo)磁率之差足夠大(如鋼上 鍍鎳)。當(dāng)軟芯上繞著線圈的測頭放在被測樣本上時,儀器自動輸出測試電流或測試信號。早期的產(chǎn)品采用指針式表頭,測量感應(yīng)電動勢的大小,儀器將該信號放大后來指示覆層厚度。
近年來的電路設(shè)計引入穩(wěn)頻、鎖相、溫度補償?shù)鹊匦录夹g(shù),利用磁阻來調(diào)制測量信號。還采用設(shè)計的集成電路,引入微機,使測量精度和重現(xiàn)性有了大幅度的提高(幾乎達一個數(shù)量級)?,F(xiàn)代的磁感應(yīng)測厚儀,分辨率達到0.1um,允許誤差達1%,量程達10mm。
電鍍層測厚儀鍍層厚度的測量方法(標準曲線法)
標準曲線法
首先經(jīng)X射線照射后,鍍層和底材都會各自產(chǎn)生熒光X射線,我們必須對這兩種熒光X射線能夠辨別,方能進行鍍層厚度的測量。也就是說,鍍層和底材所含有的元素必需是不*相同的。這是測量鍍層厚度的先決條件。
對某種金屬鍍層樣品進行測量時,基于鍍層厚度、狀態(tài)的不同,所產(chǎn)生的熒光X射線的強度也不一樣。
鍍層厚度測量時,可采用兩種不同方法,一種是注重鍍層中的元素所產(chǎn)生的熒光X射線強度,稱為激發(fā)法。另一種是注重底材中的元素所產(chǎn)生的熒光X射線強度,稱為吸收法。這兩種方法的應(yīng)用必需根據(jù)鍍層和底材的不同組合來區(qū)分使用。
鍍層厚度測量時,測量已知厚度的標準樣品而得到其厚度及產(chǎn)生的熒光X射線強度之間的關(guān)系,并做出標準曲線。然后再測量未知樣品的熒光X射線強度,得到其鍍層厚度。但是需注意的是,熒光X射線法是從得到的熒光X射線的強度來求得單位面積的元素附著量,再除以元素的密度來算出其厚度。所以,對于含有雜質(zhì)或多孔質(zhì)蒸鍍層等與純物質(zhì)不同密度的樣品,需要進行修正。
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